報告類型: 【晶須檢測檢驗認證測試】電子報告、紙質報告(中文報告、英文報告、中英文報告)
報告資質: CMA;CNAS
檢測周期: 3-10個工作日(特殊樣品除外)
服務地區(qū): 全國,實驗室就近分配
檢測用途: 電商平臺入駐;商超賣場入駐;產品質量改進;產品認證;出口通關檢驗等
樣品要求: 樣品支持快遞取送/上門采樣,數量及規(guī)格等視檢測項而定
檢測報告圖片
晶須檢測測試第三方檢測機構檢測中心可以為您提供材料成分分析、指標檢測、性能測試等服務。檢測報告可以提高消費者對您產品的信賴。
檢測項目
密度、直徑、長度、抗拉強度、彈性模量、莫氏硬度、熱膨脹系數、熔點、耐熱性等。
檢測范圍
硫酸鈣晶須、碳酸鈣晶須、碳化硅晶須、鈦酸鉀晶須、硫酸鎂晶須、莫來石晶須、石膏晶須、氧化鋁晶須、碳晶須等。
檢測標準
CEIEN60068-2-82-2008環(huán)境試驗。第2-82部分:試驗。試驗Tx:電子和電氣元件的晶須試驗方法。第一版;包含Corr國際電工委員會:2009
CEIEN60512-16-21-2013電子設備用連接器.試驗和測量.第16-21部分:觸點和終端的機械試驗.試驗16u:通過施加外部機械應力的晶須試驗
EN60068-2-82-2007環(huán)境測試.第2-82部分:試驗.試驗Tx:電子和電氣元件用晶須試驗方法
GB/T14390-2008精細陶瓷高溫彎曲強度試驗方法
GB/T23805-2009精細陶瓷室溫拉伸強度試驗方法
GB/T31541-2015精細陶瓷界面拉伸和剪切粘結強度試驗方法十字交叉法
GB/T35471-2017摩擦材料用晶須
HG/T4703-2014氧化鋅晶須
HY/T210-2016硼酸鎂晶須
IEC60068-2-82-2007環(huán)境試驗第2-82部分:試驗試驗Tx:電子和電氣元件用晶須試驗法
IEC60512-16-21-2012電子設備用機電元件基本試驗程序和測量方法第16-21部分:接觸件及終端的機械試驗試驗16:由外部機械應力應用的晶須試驗
IECPAS62483-2006測量在錫和錫合金精加工表面上晶須生長的試驗方法
JC/T2150-2012鈦酸鉀(鈉)陶瓷晶須
JC/T2151-2012陶瓷晶須形貌質量檢測方法
JISC60068-2-82-2009環(huán)境試驗第2-82部分:試驗試驗XW1:電子和電氣元件用晶須試驗法
SJ/T11697-2018無鉛元器件焊接工藝適應性規(guī)范
T/CSCM02-2020無機晶須增強高密度聚乙烯(HDPE-IW)六棱結構壁管材
TCVN7699-2-82-2014環(huán)境試驗-第2-82部分:試驗-試驗XW1:電子和電氣元件的晶須測試方法
檢測報告有效期
一般晶須檢測檢驗認證測試報告上會標注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間,不會標注有效期。
檢測費用價格
需要根據檢測項目、樣品數量及檢測標準而定,請聯(lián)系我們確定后報價。
檢測流程步驟
檢測機構平臺
百檢匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質的檢測機構遍布全國,檢測領域全行業(yè)覆蓋,為您提供晶須檢測檢驗認證測試服務。具體請咨詢在線客服。