檢測報告圖片
jep檢測報告如何辦理？檢測項目及標準有哪些？百檢第三方檢測機構(gòu)，嚴格按照jep檢測相關(guān)標準進行測試和評估。做檢測，找百檢。我們只做真實檢測。
涉及jep的標準有87條。
國際標準分類中，jep涉及到半導體分立器件、集成電路、微電子學、無屑加工設(shè)備。
在中國標準分類中，jep涉及到電子測量與儀器綜合、基礎(chǔ)標準與通用方法、電子設(shè)備專用微特電機、加工專用設(shè)備、半導體分立器件綜合、半導體集成電路、電真空器件綜合、其他電子儀器設(shè)備、半導體二極管、系統(tǒng)設(shè)備接口、電磁兼容、軟件工程、半導體整流器件、電源、電源裝置、電子技術(shù)專用材料、電子設(shè)備用金屬件、粉末冶金材料與制品、可靠性和可維護性、敏感元器件及傳感器、標準化、質(zhì)量管理、技術(shù)管理、標志、包裝、運輸、貯存、通用電子測量儀器設(shè)備及系統(tǒng)、計算機設(shè)備。
(美國)固態(tài)技術(shù)協(xié)會,隸屬EIA，關(guān)于jep的標準
JEDEC JEP178-2021
JEDEC JEP184-2021電力電子轉(zhuǎn)換用碳化硅金屬氧化物半導體器件偏壓溫度不穩(wěn)定性評估指南
JEDEC JEP301-1-2021
JEDEC JEP300-1-2021
JEDEC JEP149.01-2021
JEDEC JEP167A-2020
JEDEC JEP151-2015
JEDEC JEP163-2015
JEDEC JEP172A-2015
JEDEC JEP159A-2015
JEDEC JEP106AP-2015
JEDEC JEP166A-2014
JEDEC JEP171-2014
JEDEC JEP172-2014
JEDEC JEP153A-2014
JEDEC JEP001A-2014
JEDEC JEP148B-2014
JEDEC JEP150.01-2013
JEDEC JEP167-2013
JEDEC JEP162-2013
JEDEC JEP70C-2013
JEDEC JEP131B-2012
JEDEC JEP155A.01-2012
JEDEC JEP155A-2012
JEDEC JEP144A-2011
JEDEC JEP122G-2011
JEDEC JEP160-2011
JEDEC JEP159-2010
JEDEC JEP106AB-2010
JEDEC JEP709-2010
JEDEC JEP122F-2010
JEDEC JEP146A-2009
JEDEC JEP158-2009
JEDEC JEP155-2008用于人體帶電模型/靜電放電模型（HBM/MM）限制的電火花檢測器（ESD）目標水平推薦規(guī)程
JEDEC JEP106Y-2008
JEDEC JEP143B-2008固態(tài)可靠性評估和鑒定方法學
JEDEC JEP154-2008
JEDEC JEP148A-2008
JEDEC JEP122D-2008
JEDEC JEP152-2007使用時鐘基準板的DDR2 DIMM時鐘歪斜測試程序
JEDEC JEP114.01-2007
JEDEC JEP179-2006組裝的固態(tài)表面貼裝元件的測試驅(qū)使鑒定和故障機理分析
JEDEC JEP122C-2006硅半導體器件的故障機制和模式
JEDEC JEP130A-2006多元容器包裝中的集成電路包裝與標簽指南(導管,實驗托盤,帶,和盤)
JEDEC JEP121A-2006微電子閃變和測試優(yōu)化要求
JEDEC JEP106U.01-2006生產(chǎn)商的標準識別碼
JEDEC JEP131A-2005FMEA潛在失效模式及后果分析
JEDEC JEP150-2005組裝的固態(tài)表面貼裝元件的測試驅(qū)使鑒定和故障機理分析
JEDEC JEP133B-2005輻射多芯片模塊和混合微電路的生產(chǎn)指南
JEDEC JEP84A-2004晶體管引線溫度測量的推薦實踐
JEDEC JEP143A-2004固態(tài)可靠性評估和鑒定方法
JEDEC JEP137B-2004公共Flash接口(CFI)代碼
JEDEC JEP148-2004基于故障風險的物理性和選擇評估的半導體器件的鑒定
JEDEC JEP149-2004熱減額法應(yīng)用
JEDEC JEP119A-2003SWEAT執(zhí)行程序
JEDEC JEP146-2003提供解讀頻率值指南
JEDEC JEP104C.01-2003半導體設(shè)備的字母符號的參考指南
JEDEC JEP145-2003在動力機組系統(tǒng)中評估引線電路載體容量的指南
JEDEC JEP147-2003使用適量網(wǎng)絡(luò)分析(VNA)測試輸入電容的程序
JEDEC JEP144-2002微電子封裝剩余氣體分析(RGA)指南
JEDEC JEP140-2002半導體珠狀溫度測試
JEDEC JEP142-2002混合/MCM產(chǎn)品中獲取和接受材料
JEDEC JEP120-A-2000JEDEC出版物中定義的術(shù)語和縮略語索引
JEDEC JEP139-2000老化應(yīng)力松弛特征化鋁互連線金屬噴鍍
JEDEC JEP138-1999模具溫度的IR熱成像確定用戶指南
JEDEC JEP136-1999信號分析
JEDEC JEP113-B-1999濕敏器件用符號和標簽
JEDEC JEP70-B-1999質(zhì)量和可靠性標準和出版物
JEDEC JEP134-1998顧客提供的半導體儀器失敗分析背景信息指南
JEDEC JEP132-1998處理特性指南
JEDEC JESD51-4-1997熱測試芯片指導(線焊型芯片)勘誤表 1997年12月; 代替JEP126:1997
JEDEC JEP103A-1996建議的產(chǎn)品文獻分類和聲明
JEDEC JEP126-1996開發(fā)和記錄包裝電子模型指南
JEDEC JEP128-1996Wafer-Level電測的標準探針墊大小和布置指南
JEDEC JEP123-1995電子包裝感應(yīng)系數(shù)和電容模式參數(shù)測量指南
JEDEC JEP118-1993GaAs MMIC和FET壽命試驗導則
JEDEC JEP116-1991CMOS半定制設(shè)計導則
JEDEC JEP115-1989功率MOSFET電子測試方法
JEDEC JEP114-1989微粒沖擊噪音檢測(PIND)試驗、操作者培訓和認證指南
JEDEC JEP110-1988GaAs FETs的熱阻測量導則
JEDEC JESD531-1986單個和調(diào)節(jié)二極管的熱阻測量方法(正向電壓,交換方法).確定ANSI/EIA-531-1986, IS-13已發(fā)布; 代替JEDEC JEP90
JEDEC JEP69-B-1973場效應(yīng)管用優(yōu)先引腳外形
JEDEC JEP79-1969光敏單元的壽命測試方法
JEDEC JEP78-1969半導體紅外線探測儀的相對頻譜響應(yīng)曲線
JEDEC JEP65-1967功率晶體管*大等級認證的測試程序
美國電子元器件、組件及材料協(xié)會，關(guān)于jep的標準
JEDEC JEP143B.01-2008
未注明發(fā)布機構(gòu)，關(guān)于jep的標準
JEDEC JEP 122H-2016JEDEC JEP 122H-2016
檢測報告有效期
一般jep檢測報告上會標注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間，不會標注有效期。
檢測費用價格
需要根據(jù)檢測項目、樣品數(shù)量及檢測標準而定，請聯(lián)系我們確定后報價。
檢測流程步驟
溫馨提示：以上內(nèi)容為部分列舉，僅供參考使用。更多檢測問題請咨詢客服。
