檢測(cè)報(bào)告圖片

x射線顆粒檢測(cè)報(bào)告如何辦理？檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)有哪些？百檢第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，嚴(yán)格按照x射線顆粒檢測(cè)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試和評(píng)估。做檢測(cè)，找百檢。我們只做真實(shí)檢測(cè)。

涉及x射線 顆粒的標(biāo)準(zhǔn)有11條。

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中，x射線 顆粒涉及到粉末冶金、潤(rùn)滑劑、工業(yè)油及相關(guān)產(chǎn)品、核能工程。

在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，x射線 顆粒涉及到核材料、核燃料及其分析試驗(yàn)方法、核儀器與核探測(cè)器綜合、物理學(xué)與力學(xué)。

美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于x射線 顆粒的標(biāo)準(zhǔn)

ASTM B761-17金屬粉末和相關(guān)化合物的顆粒尺寸分布的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法通過(guò)X射線監(jiān)測(cè)重力沉降

ASTM D8127-17e1使用用于在線潤(rùn)滑劑的X射線熒光（XRF）的耦合顆粒和元素分析的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法

ASTM D8127-17使用用于在線潤(rùn)滑劑的X射線熒光（XRF）的耦合顆粒和元素分析的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法

ASTM C1456-2013用X射線熒光法(XRF)測(cè)定氧化釓和氧化鈾顆粒中鈾或釓(或者兩者)的試驗(yàn)方法

ASTM B761-06(2011)金屬粉末和相關(guān)化合物的顆粒尺寸分布的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法通過(guò)X射線監(jiān)測(cè)重力沉降

ASTM C1456-2008用X射線熒光法(XRF)測(cè)定氧化釓和氧化鈾顆粒中鈾或釓或者兩者的試驗(yàn)方法

ASTM B761-06金屬粉末和相關(guān)化合物的顆粒尺寸分布的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法通過(guò)X射線監(jiān)測(cè)重力沉降

ASTM B761-02e1金屬粉末和相關(guān)化合物的顆粒尺寸分布的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法通過(guò)X射線監(jiān)測(cè)重力沉降

ASTM B761-02金屬粉末和相關(guān)化合物的顆粒尺寸分布的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法通過(guò)X射線監(jiān)測(cè)重力沉降

ASTM C1456-2000用X射線熒光法測(cè)定氧化釓和氧化鈾顆粒中鈾和/或釓的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

法國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于x射線 顆粒的標(biāo)準(zhǔn)

NF X11-683-1981液體內(nèi)變高度重力沉積粉末顆粒分析.X射線吸收測(cè)量法

檢測(cè)報(bào)告有效期

一般x射線顆粒檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間，不會(huì)標(biāo)注有效期。

檢測(cè)費(fèi)用價(jià)格

需要根據(jù)檢測(cè)項(xiàng)目、樣品數(shù)量及檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)而定，請(qǐng)聯(lián)系我們確定后報(bào)價(jià)。

檢測(cè)流程步驟

溫馨提示：以上內(nèi)容為部分列舉，僅供參考使用。更多檢測(cè)問題請(qǐng)咨詢客服。