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檢測項目及執(zhí)行標準一覽表
| 序號 | 檢測標準 | 檢測對象 | 檢測項目 |
|---|---|---|---|
| 1 | 半導體器件 分立器件第8部分:場效應晶體管 GB/T4586-1994 第Ⅳ章 | 半導體器件（場效應管） | 柵-源短路時的漏-源擊穿電壓 |
| 2 | 半導體器件 分立器件第8部分:場效應晶體管 GB/T4586-1994 第Ⅳ章 | 半導體器件（場效應管） | 柵*（直流）電流 |
| 3 | 半導體器件 分立器件第8部分:場效應晶體管 GB/T4586-1994 第Ⅳ章 | 半導體器件（場效應管） | 柵源短路時（VGS=0）的漏*電流 |
| 4 | 半導體器件 分立器件第8部分:場效應晶體管 GB/T4586-1994 第Ⅳ章 | 半導體器件（場效應管） | 源*開路時，（結(jié)型場效應晶體管的）柵*截止電流 |
| 5 | 半導體器件 分立器件第8部分:場效應晶體管 GB/T4586-1994 第Ⅳ章 | 半導體器件（場效應管） | 漏--源短路時，（結(jié)型場效應晶體管的）柵*截止電流 |
| 6 | 半導體器件 分立器件第8部分:場效應晶體管 GB/T4586-1994 第Ⅳ章 | 半導體器件（場效應管） | 漏-源直流電壓 |
| 7 | 半導體器件 分立器件第8部分:場效應晶體管 GB/T4586-1994 第Ⅳ章 | 半導體器件（場效應管） | 漏*開路時，（結(jié)型場效應晶體管的）柵*截止電流 |
| 8 | 半導體器件 分立器件第8部分:場效應晶體管 GB/T4586-1994 第Ⅳ章 | 半導體器件（場效應管） | （增強型絕緣柵場效應晶體管的）柵-源閾值電壓 |
檢測時間周期
一般3-10天出報告，有的項目1天出報告，具體根據(jù)半導體器件（場效應管）檢測項目而定。
檢測報告有效期
一般半導體器件（場效應管）檢測報告上會標注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間。檢測報告上不會標注有效期。
檢測流程步驟
1、電話溝通、確認需求；
2、推薦方案、確認報價；
3、郵寄樣品、安排檢測；
4、進度跟蹤、結(jié)果反饋；
5、出具報告、售后服務；
6、如需加急、優(yōu)先處理；
溫馨提示：以上關(guān)于《半導體器件（場效應管）檢測》內(nèi)容僅為部分列舉供參考使用，百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測機構(gòu)遍布全國，更多檢測需求請咨詢客服。
