檢測(cè)報(bào)告圖片
第三方檢測(cè)報(bào)告有效期
一般檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測(cè)報(bào)告上不會(huì)標(biāo)注有效期。
薄膜晶點(diǎn)檢測(cè)去哪里做好？可以滿(mǎn)足客戶(hù)對(duì)各類(lèi)薄膜的晶點(diǎn)檢測(cè)需求，檢測(cè)報(bào)告認(rèn)可度高，適用性廣。
檢測(cè)概述
| 類(lèi)別 | 項(xiàng)目 |
|---|---|
| 樣品概括 | 光學(xué)薄膜、復(fù)合薄膜、超導(dǎo)薄膜、聚酯薄膜、尼龍薄膜、塑料薄膜等 |
| 項(xiàng)目推薦 | 晶點(diǎn)測(cè)定 |
| 檢測(cè)周期 | 3-10個(gè)工作日出具檢測(cè)報(bào)告 |
| 檢測(cè)費(fèi)用 | 聯(lián)系在線工程師或撥打咨詢(xún)電話(huà)獲取新報(bào)價(jià) |
| 相關(guān)標(biāo)準(zhǔn) | MH/T 6102-2014 化學(xué)處理致飛機(jī)金屬晶間腐蝕和端面晶粒點(diǎn)蝕的試驗(yàn)方法 ASTM F2625-2010 用差示掃描量熱法測(cè)量超高分子量聚乙烯的焓點(diǎn),百分比晶度和熔點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法 |
檢測(cè)流程步驟
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