- N +

金屬時(shí)間檢測(cè)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)匯總

檢測(cè)報(bào)告圖片樣例

金屬時(shí)間檢測(cè)報(bào)告如何辦理?檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)有哪些?百檢第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu),嚴(yán)格按照金屬時(shí)間檢測(cè)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試和評(píng)估。做檢測(cè),找百檢。我們只做真實(shí)檢測(cè)。

涉及金屬 時(shí)間的標(biāo)準(zhǔn)有38條。

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)中,金屬 時(shí)間涉及到熱力學(xué)和溫度測(cè)量、金屬材料試驗(yàn)、粉末冶金、半導(dǎo)體分立器件、焊接、釬焊和低溫焊、開(kāi)關(guān)裝置和控制器、電學(xué)、磁學(xué)、電和磁的測(cè)量、集成電路、微電子學(xué)。

在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)中,金屬 時(shí)間涉及到粉末冶金綜合、半導(dǎo)體分立器件綜合、金屬力學(xué)性能試驗(yàn)方法、焊接與切割設(shè)備、高壓開(kāi)關(guān)設(shè)備、金屬與合金粉末、微電路綜合、半導(dǎo)體集成電路。

美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì),關(guān)于金屬 時(shí)間的標(biāo)準(zhǔn)

ASTM E601-20基礎(chǔ)金屬熱電材料隨時(shí)間測(cè)量電動(dòng)勢(shì)(emf)穩(wěn)定性的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM E1457-19金屬蠕變裂紋生長(zhǎng)時(shí)間測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法

ASTM E1457-19e1金屬蠕變裂紋生長(zhǎng)時(shí)間測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法

ASTM E1457-15金屬蠕變裂紋生長(zhǎng)時(shí)間測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法

ASTM E601-15基礎(chǔ)金屬熱電材料隨時(shí)間測(cè)量電動(dòng)勢(shì)(emf)穩(wěn)定性的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM E1457-2015金屬蠕變裂紋擴(kuò)展時(shí)間測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E601-07a(2013)測(cè)量在空氣中隨時(shí)間變化的賤金屬熱電元件材料的電動(dòng)勢(shì)(emf)穩(wěn)定性的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E1457-13金屬中蠕變裂紋擴(kuò)展時(shí)間和速率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E601-07a測(cè)量在空氣中隨時(shí)間變化的賤金屬熱電元件材料的電動(dòng)勢(shì)(emf)穩(wěn)定性的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E601-07e1測(cè)量在空氣中隨時(shí)間變化的賤金屬熱電元件材料的電動(dòng)勢(shì)(emf)穩(wěn)定性的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E601-07測(cè)量在空氣中隨時(shí)間變化的賤金屬熱電元件材料的電動(dòng)勢(shì)(emf)穩(wěn)定性的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E1457-07e3金屬蠕變裂紋生長(zhǎng)時(shí)間測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法

ASTM E1457-07e4金屬蠕變裂紋生長(zhǎng)時(shí)間測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法

ASTM E1457-07e1金屬蠕變裂紋生長(zhǎng)時(shí)間測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法

ASTM E1457-07金屬蠕變裂紋生長(zhǎng)時(shí)間測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法

ASTM E1457-07e2金屬蠕變裂紋生長(zhǎng)時(shí)間測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法

ASTM E1457-2007e4測(cè)量金屬蠕變裂紋生長(zhǎng)時(shí)間的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM F1260M-96估計(jì)集成電路金屬化電遷移失效時(shí)間中值和西格瑪?shù)臉?biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法[米制]

ASTM F1260M-1996(2003)集成電路金屬噴鍍總量和電遷移中值失效時(shí)間的評(píng)定標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法(米制單位)

ASTM F1260M-1996集成電路金屬噴鍍總量和電遷移中值失效時(shí)間的評(píng)定標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法(米制單位)

ASTM F1260M-96(2003)集成電路金屬噴鍍總量和電遷移中值失效時(shí)間的評(píng)定標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法(米制單位)

英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì),關(guān)于金屬 時(shí)間的標(biāo)準(zhǔn)

BS EN ISO 4490-2014金屬粉末.使用校準(zhǔn)漏斗(霍爾流量計(jì))方法測(cè)定流動(dòng)時(shí)間

BS EN 62374-1-2010半導(dǎo)體裝置.依賴時(shí)間的金屬層間的介質(zhì)擊穿(TDDB)試驗(yàn)

BS EN ISO 4490-2008金屬粉末.使用校準(zhǔn)漏斗(霍爾流量計(jì))方法測(cè)定流動(dòng)時(shí)間

BS EN ISO 4490-2002金屬粉末.用校準(zhǔn)漏斗(霍爾流量計(jì))測(cè)定流動(dòng)時(shí)間

法國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì),關(guān)于金屬 時(shí)間的標(biāo)準(zhǔn)

NF C96-017-1-2011半導(dǎo)體器件.第1部分:金屬層之間的時(shí)間相關(guān)的介質(zhì)擊穿(TDDB)試驗(yàn).

德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì),關(guān)于金屬 時(shí)間的標(biāo)準(zhǔn)

DIN EN 62374-1-2011半導(dǎo)體器件.第1部分:金屬層之間的時(shí)間相關(guān)的介質(zhì)擊穿(TDDB)試驗(yàn)(IEC 62374-1-2010).德文版本EN 62374-1-2010 + AC-2011

國(guó)際電工委員會(huì),關(guān)于金屬 時(shí)間的標(biāo)準(zhǔn)

IEC 62374-1:2010半導(dǎo)體器件 - 第1部分:金屬間時(shí)間相關(guān)介質(zhì)擊穿(Tddb)測(cè)試

IEC 62374-1-2010半導(dǎo)體器件.第1部分:金屬層之間的時(shí)間相關(guān)的介質(zhì)擊穿(TDDB)試驗(yàn)

韓國(guó)標(biāo)準(zhǔn),關(guān)于金屬 時(shí)間的標(biāo)準(zhǔn)

KS D ISO 4490-2010金屬粉末.校準(zhǔn)漏斗(霍爾流量計(jì))測(cè)定流動(dòng)時(shí)間

歐洲電工標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì),關(guān)于金屬 時(shí)間的標(biāo)準(zhǔn)

EN 62374-1-2010半導(dǎo)體器件.第1部分:金屬層間時(shí)間相關(guān)的介質(zhì)擊穿(TDDB)試驗(yàn)[代替:CENELEC EN 62374]

,關(guān)于金屬 時(shí)間的標(biāo)準(zhǔn)

SFS 3374-1975紡織品.染料中的金屬物質(zhì)殘留時(shí)間測(cè)定.鐵和銅

SFS 3373-1975紡織品.染料中的金屬物質(zhì)殘留時(shí)間測(cè)定.鉻酸鹽

日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì),關(guān)于金屬 時(shí)間的標(biāo)準(zhǔn)

JIS C9300-6-2006電弧焊接設(shè)備.第6部分:有限工作時(shí)間手動(dòng)金屬弧焊電源

美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì),關(guān)于金屬 時(shí)間的標(biāo)準(zhǔn)

ANSI/IEEE C37.20.1a-2005金屬殼密封的低壓電力線路斷路器開(kāi)關(guān)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn).修改1:短時(shí)間和短路可耐電流測(cè)試;多電纜連接的*小區(qū)域

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織,關(guān)于金屬 時(shí)間的標(biāo)準(zhǔn)

ISO 4490:2001金屬粉末.用校準(zhǔn)漏斗(霍爾流量計(jì))測(cè)定流動(dòng)時(shí)間

美國(guó)國(guó)防后勤局,關(guān)于金屬 時(shí)間的標(biāo)準(zhǔn)

DLA SMD-5962-87653 REV A-1991硅單塊 互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體,可兼容時(shí)間鐘,微處理器微型電路

檢測(cè)流程步驟

檢測(cè)流程步驟

溫馨提示:以上內(nèi)容僅供參考使用,更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢客服。

返回列表
上一篇:cod歐盟檢測(cè)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)匯總
下一篇:返回列表